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PROJECT EULER · #0307

芯片缺陷

Chip Defects

仅题目 · 已解决原题 ↗

k 个缺陷随机分布在工厂生产的 n 个集成电路芯片中(芯片上可能会发现任意数量的缺陷,并且每个缺陷独立于其他缺陷)。

p(k,n) 表示芯片至少有 3 缺陷的概率。
例如 p(3,7)0.0204081633

找到 p(20000,1000000) 并以 0.abcdefghij 的形式将答案四舍五入到小数点后 10 位。

题解待补充

这道题的题目已收录,解题思路、代码和答案将在后续补充。